ZT低溫測(cè)試倉(cāng)

ZT低溫測(cè)試倉(cāng)適用范圍：

       國(guó)防工業(yè)，航天工業(yè)自動(dòng)化零組件，汽車(chē)部件，電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品

業(yè)，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐寒、耐干性能及研發(fā)，質(zhì)量管理工程之試驗(yàn)規(guī)范。

ZT低溫測(cè)試倉(cāng)滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.1～2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)。A：

低溫試驗(yàn)方法》.

執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：

1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

2.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；

3.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A

4.GB/T2423.34-2005低、溫度循環(huán)試驗(yàn)。

規(guī)格型號(hào)及技術(shù)參數(shù)：

ZT-CTH-80B，    ZT-CTH-120B 

ZT-CTH-150B，  ZT-CTH-225B                                         

ZT-CTH-306B，  ZT-CTH-408B

ZT-CTH-800B，  ZT-CTH-1000B

 
1.溫度范圍 ：常溫RT~0℃/-20℃/-40℃/-50℃/-60℃/-70℃/-86℃。  

2.控制穩(wěn)定度 ：±0.5℃  

3.分布均勻度 ：±1.0℃  

4.溫度偏差：  ≤±2℃                          

5.正常降溫時(shí)間： +20~0℃小于20分鐘

                           +20~-20℃小于45分鐘

                           +20~-40℃小于60分鐘

                           +20~-50℃小于70分鐘

                           +20~-60℃小于75分鐘

                           +20~-70℃小于80分鐘

  　                     +20~-86℃小于100分鐘

工作內(nèi)尺寸：  　

ZT-CTH-50B   　  W寬35XH高40XD深35cm

ZT-CTH-80B   　  W寬40XH高50XD深40cm

ZT-CTH-120B 　  W寬50XH高60XD深40cm

ZT-CTH-150B 　  W寬50XH高60XD深50cm

ZT-CTH-225B 　  W寬60XH高75XD深50cm

ZT-CTH-306B 　  W寬60XH高85XD深60cm

ZT-CTH-408B 　  W寬60XH高85XD深80cm 

ZT-CTH-800B 　  W寬100XH高100XD深80cm

ZT-CTH-1000B　 W寬100XH高100XD深100cm

控制器：

      采用加拿大“RUERSI”進(jìn)口微電腦液晶顯示薄膜按鍵型，英文表示溫度可程控器，具

10組程序100段次記憶，每段 99Hour59Min，每段可循環(huán)999次，可任意分割設(shè)定，并附多

組PID控制功能。