性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求

1、電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法GB2423.1-89（IEC68-2-1）

2、電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法GB2423.2-89（IEC68-2-2）

3、電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T2423.3-93（IEC68-2-3）

4、電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB/T423.4-93（IEC68-2-30）

5、GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗方法

6、GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法

7、GJB150.9-1986《軍用設備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》

8、GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》

9、GJB4.6-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》

10、GJB367.2-1987《軍用通信設備通用技術條件環(huán)境試驗方法》411濕熱試驗

11、GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗

12、GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》

13、GB/T5170.5-96《濕熱試驗設備》

14、GB10592-93《高、低溫試驗箱技術條件》試驗Da：交變濕熱試驗方法

15、GB10586-93《濕熱試驗箱技術條件》



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